Shek, Elena

Reports list

1. Vdovin V.I.^*, Fedina L.I.^*, Гутаковский А.К.^**, Shek E.^***, Sobolev N.^****
   Formation of structural defects in Si wafers irradiated with low-energy electron beam
   ^*A.V. Rzhanov Institute of Semiconductor Physics of SB RAS (Novosibirsk), Russia
   ^**Институт физики полуроводников СО РАН (Novosibirsk), Russia
   ^***Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе (St. Petersburg), Russia
   ^****Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН (St. Petersburg), Russia
   
2. Loshachenko A.S.^*, Данилов Д.В.^*, Shek E.^**, Vyvenko O.^***, Sobolev N.^****
   The electrically active centers in oxygen-implanted n-Cz-Si.
   ^*Санкт-Петербургский государственный университет (St. Petersburg), Russia
   ^**Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе (St. Petersburg), Russia
   ^***НИИ физики им. В.А. Фока, Санкт-Петербургский государственный университет (St. Petersburg), Russia
   ^****Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН (St. Petersburg), Russia
   
3. Nagornyh S.^*, Pavlenkov V.^**, Михайлов А.Н.^**, Belov A.^**, Korolev D.^**, Bobrov A.^**, Pavlov D.^**, Тетельбаум Д.И.^**, Shek E.^***
   Распределение структурных нарушений и центров дислокационной фотолюминесценции в кремнии, подвергнутом имплантации ионов Si+
   ^*Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева (Nizhniy Novgorod), Russia
   ^**Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского (Nizhniy Novgorod), Russia
   ^***Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе (St. Petersburg), Russia