Back

Wieck, Andreas


Рурский университет
Germany, Бохум

Reports list

  1. Ksenevich V.*, Adamchuk D.V.*, Gorbachuk N.I.*, Poklonski N.A.*, Wieck A.**
    Impedance of polycrystalline tin dioxide films deposited on Si3N4/Si-substrate
    *Белорусский государственный университет
    **Рурский университет (Бохум), Germany
  2. Poklonski N.A.*, Gorbachuk N.I.*, Shpakovski S.V.*, Melnikov A.**, Wieck A.***
    Raman scattering in p type silicon irradiated with 100 keV manganese ions
    *Белорусский государственный университет
    **Университет Торонто (Toronto), Canada
    ***Рурский университет (Бохум), Germany

To participants list